BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//Date iCal v3.5//NONSGML kigkonsult.se iCalcreator 2.20.2//
METHOD:PUBLISH
X-WR-CALNAME;VALUE=TEXT:ICAL
BEGIN:VTIMEZONE
TZID:Europe/Madrid
BEGIN:STANDARD
DTSTART:20171029T030000
TZOFFSETFROM:+0200
TZOFFSETTO:+0100
TZNAME:CET
END:STANDARD
BEGIN:DAYLIGHT
DTSTART:20170326T020000
TZOFFSETFROM:+0100
TZOFFSETTO:+0200
RDATE:20180325T020000
TZNAME:CEST
END:DAYLIGHT
END:VTIMEZONE
BEGIN:VEVENT
UID:calendar.31460.event_date.0@www.coit.es
DTSTAMP:20260405T224815Z
CREATED:20170922T062624Z
DESCRIPTION:Fecha

Martes\, 26 Septiembre\, 2017 - De 11:30 hasta 14:00

Ubicac
 ión

Ministerio de Economía\, Industria y Competitividad \nPaseo de la Caste
 llana\, nº 162 - Madrid\n

Coordinadas







El próximo día 26 de septiembre tendrá
  lugar en las instalaciones del Ministerio de Economía\, Industria y compe
 titividad\, una jornada informativa titulada: “El Centro Español de Metrol
 ogía y los desafíos de la metrología en el siglo XXI”.





En ella se abordarán
  los retos tecnológicos a los que se enfrenta la metrología en la presente
  década y que soluciones se están planteando para afrontar estos retos des
 de el Centro Español de Metrología y sus Laboratorios Asociados .





La metrol
 ogía continúa siendo un tema de interés común para toda la comunidad cient
 ífica\, la industria y en general para la sociedad de la que forman parte 
 los Ingenieros de Telecomunicación.





La asistencia es completamente gratuita
 .



INSCRIPCIONES: http://run.gob.es/run/kakwte




Formulario abajo

Formulario arr
 iba


Descarga el díptico de la jornada (852.69 KB)
DTSTART;TZID=Europe/Madrid:20170926T113000
DTEND;TZID=Europe/Madrid:20170926T140000
LAST-MODIFIED:20170922T062624Z
LOCATION:Ministerio de Economía\, Industria y Competitividad \nPaseo de la 
 Castellana\, nº 162 - Madrid
SUMMARY:Jornada sobre Metrología: la ciencia de la medición
URL;TYPE=URI:https://www.coit.es/eventos/jornada-sobre-metrologia-la-cienci
 a-de-la-medicion
END:VEVENT
END:VCALENDAR
